关联电子与声子谱学数据以一致确定拓扑绝缘体表面的准粒子 - 声子耦合
介观与纳米尺度物理
2014-02-27 v2 材料科学
摘要
光电子能谱和声子谱学对拓扑绝缘体表面的电子 - 声子耦合常数 给出了差异巨大的估计值，即使对于特定材料和技术也是如此。我们通过利用测得的强相互作用低能光学表面声子带谱信息来确定狄拉克费米子准粒子谱函数，从而关联了这些实验结果。我们发现由耦合产生的明显谱特征在< 1 meV 的能量尺度上变化，且不同于金属中声学声子传统观测到的特征。我们探讨了从电子角度确定 的不同方法，并识别出了能与声子谱学结果保持一致的定义。
引用
@article{arxiv.1310.5105,
title = {Connecting electron and phonon spectroscopy data to consistently determine quasiparticle-phonon coupling on the surface of topological insulators},
author = {Colin Howard and M. El-Batanouny},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.5105},
year = {2014}
}
备注
5 pages, 2 figures, 1 table, v2 contains adjusted wording in first full paragraph of page 4 to improve clarity of argument