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石墨烯应变结中的导通隙:方向依赖性

介观与纳米尺度物理 2014-10-07 v2

摘要

最近的一项研究 [Nguyen et al., Nanotechnol. \textbf{25}, 165201 (2014)] 表明,无应变/应变石墨烯结是改善石墨烯晶体管性能的有希望的候选者,而石墨烯晶体管的性能通常受限于石墨烯的无隙特性。尽管应变石墨烯的能带隙仍然为零,但由于应变引起的石墨烯晶格变形导致 \textbf{\emph{k}} 空间中 Dirac 点的移动,在仅百分之几的应变下,应变结中可能出现几百 meV 的有限导通隙。然而,由于它本质上取决于 Dirac 点移动的大小,该导通隙强烈依赖于施加应变的方向和输运方向。在本工作中,系统地研究了导通隙特性与这些量的关系,并对结果进行了仔细分析。我们的研究为今后在电子应用中利用石墨烯应变结提供了有用信息。

关键词

引用

@article{arxiv.1403.5310,
  title  = {Conduction gap in graphene strain junctions: direction dependence},
  author = {Mai Chung Nguyen and Viet Hung Nguyen and Huy-Viet Nguyen and Philippe Dollfus},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1403.5310},
  year   = {2014}
}

备注

9 pages, 7 figures, submitted