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具有质量猝灭的自由费米子电路复杂度

高能物理 - 理论 2020-03-25 v1 量子物理

摘要

利用 Hackl etal.et\, al. 近期提出的计算自由费米子高斯态复杂度的方法,我们计算了具有质量猝灭的狄拉克真空态以及费米系统激发态的复杂度。首先,我们回顾 Hackl etal.et\, al. 给出的计数方法,并证明该结果可适用于所有紧致变换群 GG。随后,我们利用此结果研究这些态复杂度的随时间演化。我们表明,对于旋转不变参考态,入射真空态的总复杂度将在晚时饱和瞬时真空态的值,并具有达到最终稳定态的典型时间尺度。此外,我们发现突然猝灭下的复杂度增长与质量差成正比,这与 AdS-Vaidya 黑洞中带激波的 holograph 复杂度增长率具有相似行为,尽管对偶边界 CFT 是强耦合的。最后,我们获得了激发态与非旋转参考态的一些特征。

关键词

引用

@article{arxiv.1810.00537,
  title  = {Circuit complexity for free Fermion with a mass quench},
  author = {Jie Jiang and Jieru Shan and Jianzhi Yang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1810.00537},
  year   = {2020}
}