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氮化物半导体中的带电基面层错散射

介观与纳米尺度物理 2011-01-18 v3 量子物理

摘要

本文发展了存在基面层错(BSF)时半导体中电荷输运的理论。结果表明,基面层错的存在导致载流子输运的各向异性。该理论被应用于包含大量 BSF 的非极性 GaN 薄膜中的载流子输运,并将结果与实验数据进行了比较。

关键词

引用

@article{arxiv.1011.0514,
  title  = {Charged basal stacking fault (BSF) scattering in nitride semiconductors},
  author = {Aniruddha Konar and Tian Fang and Nan Sun and Debdeep Jena},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1011.0514},
  year   = {2011}
}

备注

4 pages, 3 figures