具有低像素间电容串扰的 X 射线混合 CMOS 探测器的表征
天体物理仪器与方法
2015-06-05 v1
摘要
我们展示了使用 H2RG ROIC 和独特键合结构的混合 CMOS 探测器的 X 射线测量结果。硅吸收体阵列的像素尺寸为 36{\mu}m，读出阵列的间距为 18{\mu}m；但每个 36x36{\mu}m 的吸收体像素仅键合一条读出电路线。这种独特的键合结构使读出具有 36{\mu}m 的有效间距。我们发现，读出键合之间间距的增加显著降低了 Bongiorno 等人 (2010) 和 Kenter 等人 (2005) 所报道的 CMOS 探测器的像素间电容。
引用
@article{arxiv.1207.6317,
title = {Characterization of an x-ray hybrid CMOS detector with low interpixel capacitive crosstalk},
author = {Christopher V. Griffith and Stephen D. Bongiorno and David N. Burrows and Abraham D. Falcone and Zachary R. Prieskorn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.6317},
year = {2015}
}
备注
contribution to proceedings of SPIE Astronomical Telescopes & Instrumentation 2012