Speedster-EXD——一种新型事件驱动混合CMOS X射线探测器
天体物理仪器与方法
2016-02-26 v1
摘要
Speedster-EXD是一种新型的64×64像素、40 μm像素间距、100 μm耗尽层深度的混合CMOS X射线探测器（HCD），具备仅读出含事件电荷像素的能力，从而实现快速有效帧率。可设定全局电荷阈值，电荷超过该阈值的像素被标记并读出。Speedster探测器还设计了其他先进的像素内特性以提升性能，包括消除像素间电容串扰（IPC）的低噪声高增益CTIA放大器，以及降低复位噪声的像素内相关双采样（CDS）减法。我们测得Speedster-EXD探测器的最佳能量分辨在5.89 keV处为206 eV (3.5 %)，在1.49 keV处为172 eV (10.0 %)。测得对四个相邻像素的平均IPC为0.25 ± 0.2 %（即与零一致）。像素间增益变化测得为0.80 ± 0.03 %，并应用蒙特卡洛模拟以更好地表征对能量分辨的贡献。
引用
@article{arxiv.1602.07709,
title = {The Speedster-EXD- A New Event-Driven Hybrid CMOS X-ray Detector},
author = {Christopher V. Griffith and Abraham D. Falcone and Zachary R. Prieskorn and David N. Burrows},
journal= {arXiv preprint arXiv:1602.07709},
year = {2016}
}
备注
24 pages, 14 figures. Accepted for publication in the Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems