利用平移法估计二维复电导率中夹杂物尺寸的界
偏微分方程分析
2013-10-10 v1
摘要
本文考虑了电导率为复数且物体为二维时的电阻抗层析成像中的尺寸估计问题。利用在物体边界上测量的两对电压和电流数据，推导出了嵌入物体中的未知夹杂物体积分数的上下界。这些界是利用平移法推导得出的。我们还提供了数值例子，表明这些界相当紧密且在测量噪声下保持稳定。
引用
@article{arxiv.1310.2439,
title = {Bounds on the size of an inclusion using the translation method for two-dimensional complex conductivity},
author = {Hyeonbae Kang and Kyoungsun Kim and Hyundae Lee and Xiaofei Li and Graeme W. Milton},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.2439},
year = {2013}
}
备注
15 pages, 5 figures, 5 tables