用于未来引力波探测器的2微米硅分束器中的双折射

下一代引力波探测器将转向低温运行，以降低热噪声和热畸变。这需要更换反射镜基底，硅是一个很好的候选材料。双折射是一种会降低探测器灵敏度的效应，并且由于硅的晶体性质，它在硅中更受关注。我们测量了一个<100>浮区硅分束器中的双折射，因为我们预计由于空间色散效应，会存在很大的固有双折射。我们观察到双折射在$3.44 \pm 0.12 \times 10^{-7}$和$1.63 \pm 0.05 \times 10^{-7}$之间变化，并估计在2微米波长下沿<110>轴的双折射为$1.64 \pm 0.5 \times 10^{-6}$。我们展示了这一效应，并论证它加强了使用2微米波长和<100>硅的理由。