平面片箍缩的分岔分析
chao-dyn
2009-10-31 v1 混沌动力学
等离子体物理
摘要
呈现了对电驱动平面片箍缩的数值分岔分析。电导率在片内变化，使得在某个临界Hartmann数下静止的基本态变得不稳定。最不稳定的扰动是二维撕裂模。将整个问题限制在两个空间维度时，该模被追踪到时间渐近的稳态，该稳态被证明即使在主不稳定性开始的点附近也对三维扰动敏感。通过改变平面片箍缩的参数，对二维稳态撕裂模态进行了全面的三维稳定性分析。对于三维扰动的不稳定性在平衡态的不变方向上足够强的磁场下被抑制。对于系统参数的特殊选择，不稳定扰动态在其非线性演化中被追踪，并被发现趋近于一个三维稳态。
引用
@article{arxiv.chao-dyn/9912014,
title = {Bifurcation analysis of the plane sheet pinch},
author = {Joerg Schumacher and Norbert Seehafer},
journal= {arXiv preprint arXiv:chao-dyn/9912014},
year = {2009}
}
备注
11 pages, 10 figures (Figs. 7,9, and 10 as external JPG-Files)