电子风力导致的偏置结构涨落
材料科学
2007-05-23 v1 统计力学
摘要
首次通过扫描隧道显微镜（STM）成像及对大施加电流（10e5 Amp/sqare cm）下薄膜表面原子分辨运动的分析，证明了时间结构涨落与电子风力之间的直接关联。在涨落结构中，载流子与原子之间的动量传递幅度至少比自由扩散吸附原子的情况大五到十五倍（正负一个 sigma 范围）。相应的表面电阻率变化将为纳米尺度电子特性贡献显著的涨落信号。
引用
@article{arxiv.0704.1852,
title = {Biased Structural Fluctuations due to Electron Wind Force},
author = {O. Bondarchuk and W. G. Cullen and M. Degawa and Ellen D. Williams},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.1852},
year = {2007}
}
评论
15 pages