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自动化台式卷轴与单层石墨烯夹层的识别

介观与纳米尺度物理 2025-05-19 v2

摘要

在过去二十年间,石墨烯因其卓越的机械、光学和电子性能而受到广泛研究。最初的研究是通过手动“滴线胶带”卷轴实现的;近二十年后,这一方法仍广泛用于获取化学洁净的石墨烯及其他二维 van der Waals 材料夹层。不幸的是,大型洁净夹层的产量及其厚度均匀性不稳定。因此,卷轴和定位适合用于制作多层 van der Waals 异质结构的夹层所需的时间和精力显著。本文描述了一种相对可负担的台式装置(“eXfoliator”),可可靠地控制关键参数并大幅自动化卷轴过程。在典型卷轴运行中,eXfoliator 可产出3个以上(400 μ\ge400\ \mum2^2)的高质量石墨烯单层夹层,使新手能够以与经验丰富的用户相当的速度生产此类夹层。我们使用自动映射系统和计算机视觉算法来定位候选夹层。我们的结果为未来的研究工作提供了起点,即更精确地确定哪些参数对卷轴成功至关重要,并对其进行优化。

关键词

引用

@article{arxiv.2403.12901,
  title  = {Automated Tabletop Exfoliation and Identification of Monolayer Graphene Flakes},
  author = {Elijah D. S. Courtney and Mihir Pendharkar and Nathan J. Bittner and Aaron L. Sharpe and David Goldhaber-Gordon},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2403.12901},
  year   = {2025}
}

备注

11 pages, 10 figures, 12 tables