兴趣参数具有上下界的双侧检验的渐近分布
数据分析、统计与概率
2012-10-26 v1 高能物理 - 实验
摘要
我们提出了基于轮廓似然比(profile likelihood ratio)且兴趣参数具有上下界的双侧检验的渐近分布。这种情况对于分支比以及酉矩阵(如 CKM 矩阵)的元素是相关的。
引用
@article{arxiv.1210.6948,
title = {Asymptotic distribution for two-sided tests with lower and upper boundaries on the parameter of interest},
author = {Glen Cowan and Kyle Cranmer and Eilam Gross and Ofer Vitells},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.6948},
year = {2012}
}
备注
5 pages, 3 figures