向列型溶致液晶中线状拓扑缺陷的湮灭动力学

只要存在某种类型的有序，就会出现拓扑缺陷。其普遍存在于自然界中，从早期宇宙到凝聚态物质，一直是多项研究的主题。在这项工作中，我们利用偏振光显微镜技术研究了溶致向列型液晶（月桂酸钾、癸醇和去离子蒸馏水的三元混合物）中缺陷与反缺陷的湮灭动力学。我们分析了在温度淬火后，由各向同性相向列型 calamitic 相转变过程中因对称性破缺而产生的带有拓扑缺陷的 Schlieren 纹理。作为结果，我们得到了两个湮灭缺陷（缺陷-反缺陷对）之间的距离 D 作为距湮灭剩余时间 t 的函数的标度律 D ~ t^{\alpha}，其中 \alpha = 0.390，标准差 \sigma = 0.085。由于此前仅有热致液晶和聚合物液晶被研究过，我们的发现扩展了与液晶中缺陷动力学相关的实验结果。此外，我们的结果与该主题先前的定量研究吻合良好。