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α-Ga2O3中的各向异性介电函数、带间跃迁与临界点

材料科学 2021-02-24 v1

摘要

我们采用广义光谱椭偏术与密度泛函理论相结合的方法,确定并分析了α\alpha-Ga2_2O3_3薄膜的各向异性介电函数。样品通过等离子体辅助分子束外延在mm面蓝宝石上外延生长。对来自多个样品方位、光谱范围0.73 eV至8.75 eV的广义光谱椭偏数据进行了同时分析。密度泛函理论用于计算价带和导带结构。对于间接带隙材料,我们确定了:垂直于cc轴偏振的两个具有M0M_0型范霍夫奇点的直接带间跃迁,E0,=5.46(6)E_{0,\perp}=5.46(6) eV 和 E0,=6.04(1)E_{0,\perp}=6.04(1) eV;以及平行于cc轴偏振的一个具有M1M_1型范霍夫奇点的直接带间跃迁,E0,=5.44(2)E_{0,||}=5.44(2) eV。我们进一步确定了与最低寻常跃迁相关的结合能7 meV的小激子贡献,以及在M1M_1型临界点处结合能178 meV的双曲激子。

关键词

引用

@article{arxiv.2101.06595,
  title  = {Anisotropic dielectric functions, band-to-band transitions, and critical points in {\alpha}-Ga2O3},
  author = {Matthew Hilfiker and Rafał Korlacki and Riena Jinno and Yongjin Cho and Huili Grace Xing and Debdeep Jena and Ufuk Kilic and Megan Stokey and Mathias Schubert},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2101.06595},
  year   = {2021}
}

备注

7 pages, 4 figures, in submission to Applied Physics Letters