颗粒堆积的 X 射线断层图像分析
数据分析、统计与概率
2018-02-16 v2 软凝聚态物质
摘要
从颗粒堆积的三维体数据（例如通过 X 射线计算机断层扫描获得的数据）出发，我们讨论了首先检测样品中单个颗粒，然后分析其性质的方法。该分析包括对关联函数、Voronoi 元的体积与形状，以及单个颗粒间形成的接触数量与类型。我们主要关注单分散球体的堆积，但也会评述其他单形颗粒，如椭球体和四面体。本文附有一个免费软件包，包含所有程序（含源代码）和一个示例三维数据集，使读者能够复现并修改给出的所有示例。
引用
@article{arxiv.1612.06639,
title = {Analyzing X-Ray tomographies of granular packings},
author = {Simon Weis and Matthias Schröter},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.06639},
year = {2018}
}
备注
18 pages, 12 figures, submitted to review of scientific instruments, Issue 18