基于SEM图像分析支持的XMT图像中矿石颗粒描述
图像与视频处理
2018-06-11 v1 材料科学
摘要
本文研究了矿石颗粒系统的三维图像数据。通过将X射线微层析成像（XMT）与基于扫描电子显微镜（SEM）的图像分析相结合，可从特定平面截面获取关于矿物组成的额外信息。对于颗粒系统层析图像的分析，单个颗粒的提取至关重要。这通过基于标记的分水岭算法以及利用神经网络减少过分割的后处理步骤来实现。通过将三维逐颗粒分割经验性地与采用不同成像过程和分割算法获得的二维SEM图像进行比较，对结果进行验证。最后，展示了一个立体学应用，其中将平面SEM图像嵌入到三维层析图像中。这使得在整个层析图像中估计局部X射线衰减系数（一种材料特异性量）成为可能。
引用
@article{arxiv.1806.03239,
title = {Description of ore particles from XMT images, supported by SEM-based image analysis},
author = {Orkun Furat and Thomas Leißner and Ralf Ditscherlein and Ondřej Šedivý and Matthias Weber and Kai Bachmann and Jens Gutzmer and Urs Peuker and Volker Schmidt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.03239},
year = {2018}
}
备注
19 pages, 9 figures