自组装纳米粒子构成的准晶体中位错的分析
材料科学
2012-11-16 v1 介观与纳米尺度物理
软凝聚态物质
摘要
我们分析了由二元纳米粒子系统组成的自组装准晶体的透射电子显微镜 (TEM) 图像。我们使用一种自动化程序来识别位错的位置并确定其拓扑特征。为此，我们将准晶体分解为其独立的密度模式或傅里叶分量，并识别每个位错的拓扑卷绕数。该过程将伯格斯函数与每个位错关联起来，从中我们在选定基后提取伯格斯矢量的分量。我们在实验图像中观察到的伯格斯矢量均为最低阶，其分量仅包含 0 和 1。我们认为，不同类型伯格斯矢量的密度取决于其能量成本。
引用
@article{arxiv.1211.3446,
title = {Analysis of dislocations in quasicrystals composed of self-assembled nanoparticles},
author = {Liron Korkidi and Kobi Barkan and Ron Lifshitz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.3446},
year = {2012}
}