高分辨率电子背散射衍射（HR-EBSD）中参考图样选择的迭代方法
材料科学
2023-02-21 v2
摘要
对于高（角）分辨率电子背散射衍射（HR-EBSD），参考衍射图样（EBSP0）的选择显著影响所计算应变与转动图的精度。该效应在塑性变形的体心立方与面心立方延性金属（双相不锈钢中的铁素体与奥氏体晶粒）以及脆性单晶硅中得以证实，表明其影响不仅限于测量量级，也涉及空间分布。随后我们确定了互相关参数与角度误差之间的经验关系，并将其用于一种迭代算法中以识别使 HR-EBSD 精度最大化的 optimal 参考图样。
引用
@article{arxiv.2206.10242,
title = {An iterative method for reference pattern selection in high resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)},
author = {Abdalrhaman Koko and Vivian Tong and Angus J. Wilkinson and T. James Marrow},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.10242},
year = {2023}
}