基于 HR-EBSD 的微米尺度原位稳定裂纹扩展分析
材料科学
2023-06-27 v2
摘要
理解微观结构特征（如脆性夹杂物、涂层及界面）在复杂载荷条件下微米尺度的局部断裂抗力，对于基于微观结构的材料设计至关重要。本研究提出了一种新方法，通过原位高（角）分辨率电子背散射衍射（HR-EBSD）对裂纹场的弹性变形梯度张量进行实验测量，将弹性能量释放率的 J 积分评估分解至三维应力强度因子。以一个准静态裂纹为例，该裂纹相对于观测表面倾斜，并在 (001) 单晶硅片中的低指数 {hkl} 平面上扩展。
引用
@article{arxiv.2206.10243,
title = {HR-EBSD analysis of in situ stable crack growth at the micron scale},
author = {Abdalrhaman Koko and Thorsten H. Becker and Elsiddig Elmukashfi and Nicola M. Pugno and Angus J. Wilkinson and T. James Marrow},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.10243},
year = {2023}
}