电子背散射衍射花样的模式匹配分析用于花样中心、晶体取向与绝对弹性应变测定：准确度与精度评估
材料科学
2019-04-16 v1
摘要
采用目标电子背散射衍射花样（EBSP）与动态模拟EBSP之间的模式匹配，结合全局优化算法，测定花样中心（PC）与晶体取向。利用已知PC位置与取向的动态模拟目标EBSP，对该方法的误差与精度进行了系统分析。结果表明，对于未畸变的全分辨率图像（956x956像素），PC与取向的测定误差分别小于花样宽度的10和小于0.01{\deg}。引入噪声、光学畸变与图像合并对误差有一定影响，但模式匹配相比传统的基于霍夫变换的分析获得了更好的角分辨率。利用高分辨率（HR-）EBSD方法，但以动态模拟EBSP作为参考花样，探讨了实验情况下PC测定的准确度。通过无间隙钢中压痕周围的样品旋转实验与应变分析证明了这一点。
引用
@article{arxiv.1904.06891,
title = {Pattern Matching Analysis of Electron Backscatter Diffraction Patterns for Pattern Centre, Crystal Orientation and Absolute Elastic Strain Determination: Accuracy and Precision Assessment},
author = {Tomohito Tanaka and Angus J. Wilkinson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1904.06891},
year = {2019}
}