Lee 度量下 Syndrome 解码问题的零知识证明
密码学与安全
2025-09-08 v3 信息论
math.IT
摘要
Syndrome 解码问题是 NP 完全问题之一，位于密码学基础中。其中一种变体即以 Lee 度量衡量向量间距离，相较于常用的 Hamming 度量，近期被分析多个研究工作，因其潜在用于构建更高效密码体系。本文旨在为该问题的这一变体提出一种零知识知识证明。
关键词
引用
@article{arxiv.2502.11641,
title = {A Zero-Knowledge Proof for the Syndrome Decoding Problem in the Lee Metric},
author = {Mladen Kovačević and Tatjana Grbić and Darko Čapko and Nemanja Nedić and Srdjan Vukmirović},
journal= {arXiv preprint arXiv:2502.11641},
year = {2025}
}