一种用于全局 DC 优化的截断 epsilon 次微分方法

我们考虑受盒约束的凸差（DC）优化问题。利用 DC 各组成部分的 epsilon 次微分，我们发展了一种新方法用于求解该问题的全局解。该方法结合了局部搜索方法与一种特殊的逃逸非全局解的程序，通过识别更好的初始点来实现。该方法在无法进一步改进解时终止。逃逸程序设计为利用 DC 各组成部分 epsilon 次微分的子集。我们计算这些子集之间的偏差并确定 epsilon 次微分，提供该偏差。使用这些特定的 epsilon 次微分，我们构建一个具有凸目标函数的子问题。该子问题的解作为局部搜索的起始点。我们研究了概念方法的收敛性并讨论了其实现。大量学术测试问题表明，该方法在寻找高质量解方面所需的计算 effort 与其他局部 DC 优化方法相当。此外，我们将该新方法应用于 DC 优化问题的全局求解，并与两个基准全局优化求解器进行比较。