一种用薄盘光谱检验黑洞候选体的参数化方法

我们讨论一种参数化方法，用以描述对Kerr度规的可能偏离，并利用电磁辐射检验天体物理黑洞候选体。我们的度规是Kerr解的一个非常简单的推广，具有两个主要性质：$i)$ 现象学相当丰富，例如它能描述具有高Novikov-Thorne辐射效率的黑洞或尺寸非常小的黑洞；$ii)$ 它适用于研究薄盘光谱所需的数值计算。后者是我们研究此类参数化的主要动机，因为在真实数据分析中通常有若干个参数需要拟合，而当前非Kerr度规的问题在于计算时间太长。