正规化 Haar 测度为 Pietsch 测度的新准则
泛函分析
2026-03-31 v1
摘要
本文提出了一种新型准则，用于确定紧拓扑群上的正规化 Haar 测度是否为非线性求和映射的 Pietsch 测度。作为结果，本文为Botelho等人于\cite{haar botelho}中提出的问题提供了部分答案，该问题本身又源自J. Diestel向作者提出的疑问。本文明确展示了该准则涵盖了最近的和新的结果作为特定情形。
引用
@article{arxiv.2603.27851,
title = {A new criterion for the normalized Haar measure to be a Pietsch measure},
author = {Alexandre Bispo and Renato Macedo and Joedson Santos},
journal= {arXiv preprint arXiv:2603.27851},
year = {2026}
}