理解LiCoO2薄膜中脱锂损伤的多技术方法
材料科学
2025-09-03 v2
摘要
我们报道了使用草酸（C2H2O4）对LiCoO2薄膜进行脱锂，旨在理解插层氧化物因锂化学萃取而产生的结构退化。采用同步辐射X射线衍射、扫描电子显微镜、微拉曼光谱、光电子能谱和导电原子力显微镜等多技术方法，我们揭示了选择性锂萃取与结构损伤之间的平衡。我们确定了三种不同的脱锂机制，分别与表面过程、体相脱锂和损伤生成有关。我们发现仅有一部分晶粒受到脱锂过程影响，这可能造成局部不均匀性。该化学锂萃取途径为研究脱锂提供了额外机会，同时避免了与电解质分解相关的复杂性，并可简化原位测量。
引用
@article{arxiv.2010.14346,
title = {A multi-technique approach to understanding delithiation damage in LiCoO2 thin films},
author = {E. Salagre and S. Quilez and R. de Benito and M. Jaafar and H. P. van der Meulen and E. Vasco and R. Cid and E. J. Fuller and A. A. Talin and P. Segovia and E. G. Michel and C. Polop},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.14346},
year = {2025}
}