利用高分辨率 FIB-SEM 纳米断层扫描对印刷纳米结构网络进行三维成像
介观与纳米尺度物理
2023-01-27 v1 材料科学
摘要
溶液加工纳米材料的网络在电子、传感和能量存储/产生等多种应用中十分重要。尽管已知网络形貌在决定印刷网络的物理特性方面起主导作用，但量化网络结构仍然困难。在此，我们利用 FIB-SEM 纳米断层扫描来表征纳米结构网络的形貌。获得了各种尺寸石墨烯纳米片印刷网络，以及 WS2 纳米片、银纳米片和银纳米线网络的纳米级分辨率三维图像。提取了包括网络孔隙率、弯曲度、孔隙尺寸和纳米片取向在内的关键形貌特征，并将其与网络电阻率关联。通过将该技术扩展至探究垂直印刷异质堆叠内的结构与界面，我们展示了该技术在器件表征与优化方面的潜力。
引用
@article{arxiv.2301.11046,
title = {3D-imaging of Printed Nanostructured Networks using High-resolution FIB-SEM Nanotomography},
author = {Cian Gabbett and Luke Doolan and Kevin Synnatschke and Laura Gambini and Emmet Coleman and Adam G. Kelly and Shixin Liu and Eoin Caffrey and Jose Munuera and Catriona Murphy and Stefano Sanvito and Lewys Jones and Jonathan N. Coleman},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.11046},
year = {2023}
}
备注
6 figures