纳米线中的1/f噪声
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v1 统计力学
摘要
我们测量了直径15 nm<d<200 nm的银纳米线在室温下低频阻值波动(1 mHz<f<10 Hz)。功率谱密度(PSD)具有1/f^{\alpha}特征, 如金属薄膜和较大尺寸的导线中所见。此外, PSD具有显著的低频分量, 且当纳米线直径d减小时, \alpha值从通常的1增加至约3/2。归一化波动值\frac{<\Delta R^2>}{R^2}也随着直径d的减小而增加。我们观察到, 当纳米线尺寸减小时, 1/f噪声出现新的特征, 且当纳米线直径接近15nm时, 这些特征变得更为突出。调查1/f噪声的起源非常重要, 因为当金属纳米线尺寸为纳米时, 1/f噪声可能成为作为互连器件的限制因素。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0512112,
title = {1/f noise in nanowires},
author = {Aveek Bid and Achyut Bora and A. K. Raychaudhuri},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0512112},
year = {2007}
}
备注
9 pages, 6 figures, published in Nanotechnology