二维电子系统的高分辨率光谱学
介观与纳米尺度物理
2007-07-12 v1 强关联电子
摘要
涉及在材料中突然注入或射出电子的光谱学方法是探测电子结构和相互作用的有力工具。这些技术（如光发射和隧穿）可测量系统的“单粒子”态密度 (SPDOS) 谱。SPDOS 与在这些实验中成功注入或射出电子的概率成正比。它等于系统中能够接受注入电子的电子态数量随其能量的函数，是强关联系统理论中最基本且可直接计算的量之一。然而，作为分数量子霍尔效应等显著关联电子态宿主的二维电子系统 (2DES)，已被证明难以通过光谱学进行探测。在此，我们提出了一种改进版的时域电容光谱 (TDCS) 技术，现在使我们能够以前所未有的保真度和分辨率测量 2DES 的 SPDOS。利用 TDCS，我们对冷 2DES 进行了测量，提供了量子霍尔系统中单粒子交换增强自旋隙和单粒子寿命的首次直接测量，以及首次在非费米面处观察到朗道能级的交换分裂。这些测量揭示了该强关联系统在远离费米面处存在的难以触及且精美的结构。
关键词
引用
@article{arxiv.0707.1686,
title = {High Resolution Spectroscopy of Two-Dimensional Electron Systems},
author = {O. E. Dial and R. C. Ashoori and L. N. Pfeiffer and K. W. West},
journal= {arXiv preprint arXiv:0707.1686},
year = {2007}
}
评论
There are formatting and minor textual differences between this version and the published version in Nature (follow the DOI link below)