Zn2GeO4/SnO2纳米线结构：一项关联空间分辨X射线研究
材料科学
2022-06-22 v1
摘要
基于纳米线的宽禁带半导体异质结构作为开发新型光电器件的纳米级构建单元已引起极大兴趣。由于异质性与结构缺陷在光电特性中的关键作用，详细研究这些体系的局域结构与元素组成已成为一项挑战。通常，透射电子显微镜与能量色散X射线谱被用于解决此类问题。此处，利用同步辐射纳米束探针，我们展示了对Zn2GeO4/SnO2纳米线基体系的组成、发光与局域结构的关联空间分辨研究。与其他工作不同，该异质结构通过一种高效的无催化剂热蒸发方法合成，并呈现出由Plateau-Rayleigh不稳定性形成的串烧状结构。我们的结果突出了扩散杂质对该异质结构光学性质的作用，并为利用X射线纳米探针进行进一步异质性研究开辟了新途径。
引用
@article{arxiv.2206.09730,
title = {Zn2GeO4/SnO2 nanowire architecture: A correlative spatially resolved X-ray study},
author = {Jaime Dolado and Fernanda Malato and Jaime Segura-Ruiz and María Taeño and Irina Snigireva and Pedro Hidalgo and Bianchi Méndez and Gema Martínez-Criado},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.09730},
year = {2022}
}