YIG/Pt 系统中自旋流 - 电荷流转换的 YIG 厚度与频率依赖性

我们报告了混合亚铁磁绝缘体/正常金属系统中自旋流发射随绝缘层厚度变化的频率依赖性。该系统基于通过液相外延生长的钇铁石榴石 (YIG) 薄膜 [0.2, 1, 和 3 $\mu$m]，并与铂 [6 nm] 自旋流探测器耦合。观察到自旋泵浦效率具有强烈的 YIG 厚度依赖性。对于较薄的 YIG 展示了最高的转换因子 $\Delta V/P_{\text{abs}}$（在 2.5 和 10 GHz 下分别为 1.79 和 0.55 mV/mW$^{-1}$），这对于实现基于 YIG 的器件具有重要意义。还观察到自旋泵浦效率具有强烈的 YIG 厚度依赖性，并且我们证明了三磁子分裂过程的阈值频率依赖性。