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Y3Fe5O12/重金属双层膜中电流驱动铁磁共振的厚度依赖性研究

介观与纳米尺度物理 2017-04-05 v1

摘要

我们利用铁磁共振研究了YIG/重金属双层膜中的电流感生力矩。对厚度从14.8纳米到80纳米不等的YIG样品,顶部覆盖Pt或Ta薄膜,通过向重金属中施加微波电流并测量由自旋整流和自旋泵浦产生的纵向直流电压来进行测量。通过对铁磁共振线形及其对YIG厚度依赖性的对称性分析,我们推断在驱动磁化动力学中,奥斯特场主导了自旋转移力矩。

关键词

引用

@article{arxiv.1612.06111,
  title  = {Thickness dependence study of current-driven ferromagnetic resonance in Y3Fe5O12/heavy metal bilayers},
  author = {Z. Fang and A. Mitra and A. L. Westerman and M. Ali and C. Ciccarelli and O. Cespedes and B. J. Hickey and A. J. Ferguson},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1612.06111},
  year   = {2017}
}

备注

8 pages, 3 figures