用热成像技术观测自旋 Peltier 效应的厚度依赖关系
材料科学
2020-10-28 v3 介观与纳米尺度物理
摘要
通过在 Pt/YIG 结系统中测量并分析亚铁磁绝缘体钇铁石榴石(YIG)厚度 t_YIG 对自旋 Peltier 效应(SPE)的依赖关系,研究了 YIG 中的磁子传播长度。利用锁相热成像技术,我们测量了具有 t_YIG 梯度的 Pt/YIG 系统中 SPE 诱导温度调制的空间分布,从而能以高 t_YIG 分辨率获得准确的 SPE 随 t_YIG 的变化关系。基于 SPE 的 t_YIG 依赖关系,我们验证了若干唯象模型在估算 YIG 中磁子扩散长度方面的适用性。
引用
@article{arxiv.1906.01560,
title = {Thickness dependence of spin Peltier effect visualized by thermal imaging technique},
author = {Shunsuke Daimon and Ken-ichi Uchida and Naomi Ujiie and Yasuyuki Hattori and Rei Tsuboi and Eiji Saitoh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.01560},
year = {2020}
}
备注
10 pages, 4 figures