V2O3 异质结构相变的X射线纳米成像
材料科学
2024-07-02 v2
摘要
通过应变工程控制Mott相变对于推动 memristive 和神经形计算器件的研发与应用至关重要。然而，由于内在相边界和外在缺陷的存在，Mott 绝缘体呈现异质性，严重挑战了对局部微观畸变对局部Mott相变影响的完全理解。解决这些挑战要求在相关尺度上进行结构表征。本文采用基于同步辐射的扫描X射线纳米探针，对V2O3薄膜在结构相变期间的实空间结构异质性进行了研究。通过温度依赖的金属-绝缘相共存图谱，我们报告了film中局部相变温度可达7 K的变化，以及纳米尺度上的相变滞后现象。进一步的定量分析表明，相变的空间异质性与绝缘相中晶面倾斜密切相关。我们的工作揭示了局部异质性对Mott相变的影响，为在Mott系统中利用应变异质性开发下一代计算技术奠定了基础。
引用
@article{arxiv.2403.10719,
title = {X-ray Nano-imaging of a Heterogeneous Structural Phase Transition in V2O3},
author = {Ziming Shao and Aileen Luo and Eti Barazani and Tao Zhou and Zhonghou Cai and Martin V. Holt and Yoav Kalcheim and Andrej Singer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.10719},
year = {2024}
}