利用石英晶体微天平称量石墨烯以监测界面质量变化
材料科学
2018-01-16 v1
摘要
在本快报中，我们利用石英晶体微天平（QCM）实验测定了化学气相沉积法生长的石墨烯的质量密度。我们开发了一种转移印刷技术，将大面积单层石墨烯集成到QCM上。通过监测负载石墨烯的振荡石英晶体的谐振频率，测得石墨烯的质量密度约为118 ng/cm2，明显大于理想石墨烯（约76 ng/cm2），主要由于石墨烯片上存在褶皱及有机/无机残留物。石英晶体谐振器的高灵敏度使我们能够确定样品中石墨烯的层数。此外，我们将该技术扩展至探测生物分子在石墨烯表面吸附以及等离子体辅助氧化石墨烯过程中的界面质量变化。
引用
@article{arxiv.1801.04755,
title = {Weighting graphene with QCM to monitor interfacial mass changes},
author = {Nurbek Kakenov and Osman Balci and Omer Salihoglu and Seung Hyun Hur and Sinan Balci and Coskun Kocabas},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.04755},
year = {2018}
}