石墨烯的暗场透射电子显微镜与 Debye-Waller 因子
介观与纳米尺度物理
2015-03-20 v3
摘要
石墨烯的结构既关乎材料的电子性质，也关乎二维晶体中长程有序的基本问题。我们提出了多层石墨烯选区电子衍射的解析计算，并将其与化学气相沉积和机械剥离制备的样品数据进行了比较。单层仅散射 0.5% 的入射电子，因此这种运动学计算对于五层或更少的层数是可靠的。多层石墨烯的暗场透射电子显微图说明了如何利用衍射峰强度的知识来快速绘制厚度、堆垛和晶界图。衍射峰强度还取决于原子偏离其理想晶格位置的均方位移，这由 Debye-Waller 因子参数化。我们测量了悬浮单层剥离石墨烯的 Debye-Waller 因子，发现结果与基于 Debye 模型的估计一致。对于实验室规模的石墨烯样品，有限尺寸效应足以稳定石墨烯晶格防止熔化，表明第三维中的波纹并非必要。
引用
@article{arxiv.1207.0040,
title = {Dark-field transmission electron microscopy and the Debye-Waller factor of graphene},
author = {Brian Shevitski and Matthew Mecklenburg and William A. Hubbard and E. R. White and Ben Dawson and M. S. Lodge and Masa Ishigami and B. C. Regan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.0040},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 4 figures