利用扫描隧道显微镜与谱学观测 Ir_{1-x}Pt_{x}Te_{2} 中 Pt 掺杂对表面及电子结构的影响

我们报道了利用扫描隧道显微镜（STM）和谱学（STS）研究的 Ir$_{\mathrm{1-x}}$Pt$_{\mathrm{x}}$Te$_ {\mathrm{2}}$ 中 Pt 掺杂对表面与电子结构的影响。在 4.2 K 下解理制备的表面显示出最顶层 Te 原子的三角晶格。尽管 Pt 浓度不同，发生结构相变的化合物均具有固定波矢 $q = \frac{2\pi}{5a_m}$（其中 $a_m$ 为单斜相的晶格常数）的超调制。超导化合物显示出斑块结构。既无超导性也无结构相变的化合物表面未显示超结构。在所有掺杂样品中，掺杂原子在 STM 图像中表现为暗斑。掺杂原子附近的隧穿谱显示局域态密度在约 -200 mV 处发生变化。掺杂原子的此类微观效应为我们建立该材料的微观模型提供了关键。