利用回旋辐射发射进行超高分辨率 X 射线能谱学
原子物理
2020-08-12 v2 仪器与探测器
摘要
回旋辐射发射能谱学（CRES）是一种测量束缚于外施磁场中电子能量的方法。裸电子可来自不同相互作用，包括光电吸收、康普顿散射、β 衰变与电子对产生。CRES 依赖于测量电子回旋运动的频率，由于测量时间延续 - 个周期，能量分辨率在单电子伏特量级。迄今，CRES 仅在内禀 β 发射放射性同位素上实现，但该技术可通过适当选择靶气体与足够强度的特定 X 射线源应用于 X 射线能谱学。该技术的应用范围从原子能级的高精度测量，到基础科学实验的校准，再到痕量元素识别。本工作中，我们在测量氩能级的框架下探索 CRES 用于 X 射线能谱学，尽管其原理广泛适用于许多其他情形。我们探讨的问题包括靶材料、密度、电子俘获深度、噪声水平与总体效率。我们还讨论了谱去卷积，以及如何利用单一靶/源对获得的多个峰来增强测量的鲁棒性。
引用
@article{arxiv.1911.05869,
title = {Using Cyclotron Radiation Emission for Ultra-high Resolution X-Ray Spectroscopy},
author = {Kareem Kazkaz and Nathan Woollett},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.05869},
year = {2020}
}
备注
11 pages, 9 figures