X 射线散射函数在反射率 Kramers-Kronig 分析中的应用
材料科学
2015-06-23 v1 其他凝聚态物理
摘要
Kramers-Kronig 分析常用于估算新材料的光学性质。该分析通常使用从远红外到近紫外(例如 40--40,000 cm或 5 meV--5 eV)的数据,并在测量范围之外使用外推法。大多数高频外推采用幂律 ,在相当高的频率处过渡到 ,并将这种自由载流子延拓至无穷大。中频段的幂律被调整以匹配数据的斜率并产生平滑的曲线,但幂次的选择(通常在 0.5 到 3 之间)是任意的。与其使用任意幂律,不如使用 Henke 等人提出的 X 射线原子散射函数。这些函数基本上将固体视为其原子组分的线性组合,在已知化学式和密度的情况下,允许计算介电函数、反射率和其他光学函数。"Henke 反射率"可用于 10 eV--34 keV 的光子能量范围,此后进行 延拓是完全合适的。本文讨论了实验数据与 Henke 反射率之间的桥梁,以及对后者所需进行的两项修正。
引用
@article{arxiv.1411.2061,
title = {Use of X-ray scattering functions in Kramers-Kronig analysis of reflectance},
author = {D. B. Tanner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.2061},
year = {2015}
}
备注
14 figures