薄膜超导体之间普适点接触电阻

考虑由两个超导薄膜通过点接触连接组成的系统。计算点接触电阻随温度和薄膜几何形状的变化，发现其随温度下降而迅速消失，呈普适且接近激发形式，仅在零温度时严格为零。在最低温度下，激发势垒主要由薄膜中的超流刚度决定，仅显示出较弱（即对数）温度依赖。因此，尽管存在弱势力的 Josephson 效应仍被毁灭，其主要是由于 Berezinskii-Kosterlitz-Thouless 相变温度以下薄膜中呈幂律相关的超导性涨落所致。讨论电阻在各种极限条件下以及在这些条件之间横跨的行为。给出薄膜和点接触的最小模型及电阻计算的细节。采用以量子相滑事件为基础的表述方法，这在良好接触的极限下自然且有效，尽管也证明即使在接触较差时仍然有效，而且在温度足够低时，这种方法是必不可少的，因为系统始终表现为良好接触极限。引入一个简单的机械类比，以提供对近似激发温度依赖性电阻的某种启发性理解。讨论对预测行为的实验测试前景，并提供与预期实验条件相关的数值估计。