利用拉曼散射和 X 射线衍射揭示 BiSrYCu2O8 中的压力调控电子相变
超导电性
2009-11-13 v1
摘要
我们报告了 Bi1.98Sr2.06Y0.68Cu2O8 的压力调控拉曼和 X 射线衍射数据，揭示了在 21 GPa 处的临界压力，并在六个物理量中观察到异常：电子拉曼背景、电子 - 声子耦合、从高到低频的谱重转移、声子和磁振子频率的密度依赖行为，以及 c 轴压缩率的变化。首次在铜氧化物中，移动电荷载流子、晶格和磁性在相同的实验设置下于明确的临界压力处均显示出异常。此外，拉曼光谱变化类似于随掺杂穿越超导穹顶时观察到的变化，表明 21 GPa 处的临界压力与广泛讨论的最佳掺杂临界点有关。
引用
@article{arxiv.0801.2772,
title = {Uncovering a pressure-tuned electronic transition in BiSrYCu2O8 using Raman scattering and x-ray diffraction},
author = {T. Cuk and V. Struzhkin and T. P. Devereaux and A. Goncharov and C. Kendziora and H. Eisaki and H. Mao and Z. -X. Shen},
journal= {arXiv preprint arXiv:0801.2772},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 4 figures, submitted to PRL