基于微透镜阵列与发光微粒的不可克隆防伪标签
应用物理
2022-03-28 v1
摘要
制造过程中的微米级随机性可确保防伪标签不可克隆。然而，这种安全性通常以需要复杂的认证硬件（例如显微镜系统）为代价。我们展示了可使用标准发光二极管与智能手机摄像头进行认证的不可克隆标签。该标签由层压在掺杂发光微粒的聚合物薄膜上的微透镜阵列构成。焦体积与微粒的微米级随机重叠产生可见光发射亮点的图样，可由智能手机摄像头轻松成像。10 000 次图像比对表明，标签可被稳健认证，且错误认证的概率约为 。微透镜阵列简化不可克隆标签认证所需硬件的能力具有通用性，并在防伪系统的不可克隆标签实现中具有吸引力。
引用
@article{arxiv.2107.05439,
title = {Unclonable anti-counterfeiting labels based on microlens arrays and luminescent microparticles},
author = {Vinay Kumar and Stephan Dottermusch and Ngei Katumo and Bryce S. Richards and Ian A. Howard},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.05439},
year = {2022}
}
备注
31 pages, main text and supplementary material