透射菊池衍射mapping在原子探针试样中诱发结构损伤
材料科学
2023-04-04 v2
摘要
利用透射菊池衍射(TKD)将特定晶体学特征定位至针状试样尖端附近，有助于通过原子探针层析(APT)测量其局域化学成分。然而，用于TKD的高能电子可能带来的结构损伤很少被考虑，因此尚不甚明了。在此，我们通过两个案例研究证实了TKD mapping在APT试样中造成的损伤。首先，我们分析了一种Mo预期均匀分布的固溶体、亚稳β-Ti-12Mo合金。TKD之后，APT揭示了Mo及其他元素的面状偏析。其次，在高锰孪生诱发塑性钢中于Σ3孪晶界附近制备试样，随后充入氘气。除类似的面状偏析外，在进行了TKD的试样中检测到含有高浓度氘(即气泡)的空洞。两个例子均展示了TKD mapping造成的损伤导致溶质成分分布中的假象。我们提出，结构损伤由表面物种(包括H和C)在mapping过程中受入射高能电子反冲而植入样品，并引发级联结构损伤所造成。
引用
@article{arxiv.2212.06362,
title = {Transmission Kikuchi diffraction mapping induces structural damage in atom probe specimens},
author = {Baptiste Gault and Heena Khanchandani and T. S. Prithiv and Stoichko Antonov and T. Ben Britton},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.06362},
year = {2023}
}