透射菊池衍射(TKD)分析的纵向深度分辨率研究
材料科学
2019-06-24 v1
摘要
本文利用Zr-Nb合金分析了轴上透射菊池衍射(TKD)所能达到的深度分辨率。结果表明,对可探测菊池带产生贡献的信号来源于薄箔样品底面以下约热漫散射平均自由程(lambdaTDS)的深度。因此,这种已有的表面敏感性会导致当纳米晶箔的相对两面分别朝向入射电子束时,观察到不同的晶粒结构。这些结果还为TKD分析提供了理想样品厚度准则:对于高晶体对称性样品,厚度为6lambdaTDS,或弹性散射平均自由程(lambdaMFP)的21倍;对于较低对称性的样品,建议采用较小厚度3lambdaTDS,或10lambdaMFP。
引用
@article{arxiv.1904.04140,
title = {On the depth resolution of transmission Kikuchi diffraction (TKD) analysis},
author = {Junliang Liu and Sergio Lozano-Perez and Angus J. Wilkinson and Chris R. M. Grovenor},
journal= {arXiv preprint arXiv:1904.04140},
year = {2019}
}