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二维倾斜狄拉克费米子受拓扑保护的倍增

介观与纳米尺度物理 2019-04-16 v1

摘要

本文从理论上研究了二维晶格上无质量狄拉克费米子的倍增现象。已表明,在破缺手征对称的晶格上,无质量狄拉克费米子的倍增是受拓扑保护的,即便狄拉克锥发生倾斜也是如此。这归因于为晶格系统所定义的广义手征对称,此类模型可由手征对称晶格模型的形变生成。本文针对两带晶格模型表明,这是产生具广义手征对称系统的普遍方式,因为此类系统总可变换回具常规手征对称的晶格模型。我们具体证明零模数目是该变换的不变量,从而导致二维倾斜无质量狄拉克费米子倍增的 Nielsen-Ninomiya 式拓扑保护。

关键词

引用

@article{arxiv.1904.07067,
  title  = {Topologically Protected Doubling of Tilted Dirac Fermions in Two Dimensions},
  author = {Tohru Kawarabayashi and Hideo Aoki and Yasuhiro Hatsugai},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1904.07067},
  year   = {2019}
}

备注

5 pages, 3 figures, ICPS 2018