通过噪声测量记录的相关性进行层析成像

我们提出了在超导量子比特架构中，通过对噪声测量进行逐发（shot-by-shot）相关性分析以提取纠缠态和过程层析成像的方法与结果。我们表明，平均连续值而非计数离散阈值化值是一种有效的层析策略，事实上是在低信噪比机制下的更优选择。我们展示了从单个测量中测量 $N$ 体相关性的工作量随 $N$ 呈指数级增长，但在信噪比充足的情况下，该方法对于少体相关性仍然可行。我们提供了一种新协议，以最优方式解释脉冲测量的瞬态行为。尽管单次测量保真度并非完美，但我们演示了适当的处理以提取和验证纠缠态及过程。