以热电响应为手段观测薄层导电铁电 SnSe 中的电卡效应
介观与纳米尺度物理
2021-07-14 v1
摘要
我们在实验上研究了 100~nm 厚 SnSe 单晶薄片在电流诱导直流电场下的热电响应。热电响应表现为二次谐波横向电压 ，其反映了由谐波交流激励电流 的焦耳热所引起的样品内温度梯度。除强烈非单调的依赖关系 外，我们观察到直流电场方向控制着 SnSe 薄片中温度梯度的符号。我们提出，电卡效应是所获结果最可能的原因。因此，我们的实验可理解为展示了在导电铁电晶体中由面内电场诱导电卡效应、并通过热电响应加以探测的可能性。
引用
@article{arxiv.2107.06138,
title = {Thermoelectric response as a tool to observe electrocaloric effect in a thin conducting ferroelectric SnSe flake},
author = {N. N. Orlova and A. V. Timonina and N. N. Kolesnikov and E. V. Deviatov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.06138},
year = {2021}
}