通过光泵浦-探测光谱测量石墨烯-SiO2界面的热导率
材料科学
2010-09-02 v1
摘要
我们研究了通过机械剥离石墨制备在熔融SiO2基底上的单层和多层石墨烯样品的界面热导率{\sigma}int。通过使用超快光泵浦脉冲并监测皮秒时间尺度上的瞬态反射率，我们获得了石墨烯-SiO2系统的平均{\sigma}int为5,000 W/cm2K。我们观察到单个样品之间的{\sigma}int存在显著变化，但未发现其与石墨烯层厚度有系统性依赖关系。
引用
@article{arxiv.1009.0231,
title = {Thermal conductance at the graphene-SiO2 interface measured by optical pump-probe spectroscopy},
author = {Kin Fai Mak and Chun Hung Lui and Tony F. Heinz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1009.0231},
year = {2010}
}
备注
13 pages, 3 figures