组装偏倚的本质 - II. 晕自旋
宇宙学与河外天体物理
2012-08-28 v1
摘要
我们研究了一种由无量纲自旋参数参数化的组装型偏倚，该偏倚影响大质量结构。在数值模拟中，同等质量下，高自旋晕比低自旋晕具有更强的成团性。我们在 - 的暗物质晕中探测到成团强度差异超过 30%，这与 Bett 等人的结果相似。我们探讨了若应用 Lacerna & Padilla（论文 I）提出的基于组装年龄的过密度峰值高度重新定义，是否能消除成团强度对晕自旋的依赖。我们发现情况并非如此，原因有二：首先，使用此重新定义后，仅有少量低维里质量对象被移入自旋引入组装偏倚的质量范围；其次，该形式体系并未改变大质量对象的质量。随后，我们重复论文 I 中寻找重新定义峰值高度的过程，但此次使用自旋参数。在这种情况下，新质量不再显示与自旋相关的组装偏倚，但却引入了此前不存在的与相对年龄相关的组装偏倚。据此结果，我们得出结论：相对于晕自旋的组装型偏倚与相对于组装年龄的偏倚具有不同的起源。前者可能源于纤维状结构中的物质，这些物质被大质量晕吸积，且在高密度环境中得到增强，从而导致更极端的自旋值，而并未显著改变晕的形成年龄。此外，在某些情况下，大质量对象对应的峰值高度可能不同于数值模拟中由其质量所建议的值，这为相对于自旋的组装偏倚提供了一种可能的解释。（摘要节选）
引用
@article{arxiv.1207.4476,
title = {The nature of assembly bias - II. Halo spin},
author = {Ivan Lacerna and Nelson Padilla},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.4476},
year = {2012}
}
备注
5 pages, 5 figures. Accepted for publication in MNRAS letters