组装偏倚的本质 - III. 观测性质
宇宙学与河外天体物理
2014-08-29 v5
摘要
我们分析了斯隆数字巡天 (SDSS) 中星系群内的星系,发现了一种微弱但显著的组装型偏倚,即在相同宿主晕质量 ( ) 下,年老中心星系在 > 1 Mpc 尺度上的聚类振幅比年轻中心星系高出 61 9%。观测样本为体积限制样本,红移延伸至 z=0.1,且满足 5 log。我们构建了一个星系模拟星表,其在相同晕质量下显示出类似的组装偏倚信号 (46 9%)。随后,我们调整了 Lacerna & Padilla (论文 I) 提出的模型,重新定义了过密度峰值高度,该高度追踪组装偏倚,使得处于同等密度峰值的星系无论其恒星年龄如何都表现出相同的聚类,但此次使用了如流量限制等观测特征。作为峰值高度的代理变量(被提议作为优于维里质量的替代方案),其定义为以每个中心星系为中心的圆柱体内邻近宿主晕质量之和。圆柱半径被参数化为恒星年龄和维里质量的函数。使得 SDSS 和模拟中心星系的组装偏倚信号均低于 515% 的最佳拟合参数集是相似的。参数化背后的思想并非最小化偏倚,而是利用此方法理解产生组装偏倚效应的物理特征。尽管此处使用的密度场示踪物与论文 I 中使用的有显著不同,但我们对模拟星表的分析表明,不同的示踪物产生了相关的代理变量,因此这种组装偏倚背后的原因是模拟和 SDSS 中峰值的拥挤。
引用
@article{arxiv.1110.6174,
title = {The nature of assembly bias - III. Observational properties},
author = {Ivan Lacerna and Nelson Padilla and Federico Stasyszyn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.6174},
year = {2014}
}
备注
12 pages, 11 figures. Accepted for publication in MNRAS