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Product Morrey Spaces 中的 Kerman-Sawyer 迹痕定理

泛函分析 2026-04-21 v1 经典分析与常微分方程

摘要

通过采用平行脉冲分解方法,将 Kerman-Sawyer 迹痕不等式从 Lebesgue 空间推广至乘积 Morrey 空间。

关键词

引用

@article{arxiv.2604.17733,
  title  = {The Kerman-Sawyer trace theorem for product Morrey spaces},
  author = {Naoya Hatano and Ryota Kawasumi and Hiroki Saito and Hitoshi Tanaka},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2604.17733},
  year   = {2026}
}